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成都切片测试 电子元器件失效分析 技术成熟

发布日期 :2024-11-21 08:35访问:1次发布IP:119.6.100.16编号:10999467
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切片分析测试是电子行业常用的技术分析手段之一,常用于检验电路板质量,PCBA焊接质量,芯片焊接质量以及失效分析等.

如PCB电路板完成后,抽样做产品质量检验;

产品发生异常不良后,对异常位置做取样分析,找出异常原因;

检查内部走线厚度、层数、通孔孔径大小、焊点内部孔洞、结合状况等

切片测试步骤:取样—清洗—镶嵌—研磨—抛光—观察(显微镜观察/扫描电镜SEM观察等)—分析

优尔鸿信检测成都检测中心多年从事电子电器行业检测服务,有丰富的PCB电路板、芯片等电子元器件切片测试及失效分析经验,可快速、高效、的为客户提供测试分析服务。


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